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高低溫低氣壓試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)
日期：2025-09-08 02:34
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摘要：高低溫低氣壓試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)
高低溫低氣壓試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)如下：
GJB150.2A-2009 **裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低氣壓（高度）試驗(yàn)
GB/T10590-2006 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10591-2006 高溫 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T11159-2010 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M 低氣壓
GB/T2423.25-1992 電...
高低溫低氣壓試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)
高低溫低氣壓試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)如下：
GJB150.2A-2009 **裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低氣壓（高度）試驗(yàn)
GB/T10590-2006 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10591-2006 高溫 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T11159-2010 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M 低氣壓
GB/T2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z／AM 低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z／BM 高溫／低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫-低氣壓-濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
