UV-340/UV-313紫外輻照計產品用途
該款紫外輻照計采用 SMT 貼片技術，選用低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
UV-340/UV-313紫外輻照計性能特點
* 光譜及角度特性經校正
* 數字液晶顯示，帶背光
* 手動/自動量程切換
* 數字輸出接口（USB,冗余供電）
* 低電量提醒
* 自動延時關機
* 有數字保持
* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
UV-UV-340/UV-313紫外輻照計技術參數
* 波長 范圍及峰值波長：( 以下兩種選其一)
（1）UV-340 探頭：λ：(315～370)nm；λ P ＝340nm
（2）UV-313 探頭：λ：(290～340)nm；λ P ＝313nm
* 輻照度測量范圍：
(0.1～199.9×103 ) μW/cm 2
* 紫外帶外區雜光：
UV313：小于 0.05%
UV340：小于 0.05%
* 相對示值誤差：±10%（相對與 NIM 標準）
* 角度響應特性：±5%(α ≤10°)
* 線性誤差：±1%
* 換檔誤差：±1%
* 短期不穩定性：±1%（開機 30min 后）
* 疲勞特性：衰減量小于 2%
* 零值誤差：滿量程的±1%
* 響應時間：1 秒
* 使用環境： 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH
* 尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg
* 電源 ： 常規使用 6F22 型 9V 積層電池一只
亦可使用數據線連接 USB 接口、5V 電源適配器供電
整機功耗 ＜0.1VA
